金屬鍍層測厚儀采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統。金屬鍍層測厚儀是結合了測量鍍層厚度及物料分析雙功能在一整體的設計，此儀器是采用能量散射X-射線螢光測量原理，符合標準來進行非破壞及不接觸的測量。除了可以測量鍍層厚度外，還可以計算合金中各種元素的含量。產品特點：
★ X射線發生系統采用了聚光導管由于采用了X射線聚光導管方式，可得到以往十倍以上的X射線強度，從而可以提高微小樣品的膜厚測量及有害物質測量的精度。★ 無需液氮的半導體檢測器 在進行薄膜測量與有害物質的濃度測量時，高分辨率的檢測器是*的。SFT9500的檢測器不但可以達到高分辨率，而且可以實現高計數率。同時，由于使用了電子冷卻方式，所以無需液氮。★ 能譜匹配軟件，可瞬間識別未知樣品與事先存檔的X射線能譜庫中哪一個樣品較為接近的軟件。對識別材料十分有效。★ 塊體檢量線軟件（適用于電鍍液分析） 可簡單地測量出電鍍液中主要金屬的濃度。★ 繪圖軟件（選配件） 將元素面分析的結果進行等高線和色彩使用等視覺處理的軟件。★ 電鍍液容器（選配件）★ 各種標準物質（選配件）你的需求，便是我們的追求，期待您的來電，金霖電子 吳 ：29371653 地址：寶安中心區宏發中心大廈
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金屬鍍層測厚儀 產品信息
