二手美國(guó)惠普HP4285A精密LCR測(cè)試儀
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美國(guó)原裝HP4285A精密LCR測(cè)試儀 品 牌: HP 產(chǎn)品型號(hào): 4285A 產(chǎn)品指標(biāo): 75kHz-30MHz 產(chǎn)品信息: 75kHz-30MHz 以100Hz步進(jìn) 0.1%的基本精度 高速測(cè)量:30ms/一次測(cè)量 恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平 用Agilent42841A時(shí)給出10Adc 能用Agilent42851A進(jìn)行精確的Q測(cè)量 具有列表掃描測(cè)量功能 4284A,4285A精密LCR測(cè)試儀 Agilent4284A和4285A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它們通過(guò)提供精確、高吞吐量的測(cè)試方法來(lái)改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào),使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合zui通行測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)(電工委員會(huì)用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn))。對(duì)射頻元件的測(cè)試,4285A給出更高的測(cè)試頻率范圍,從75KHz到30MHz。無(wú)論在研究開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn),4284A和4285A能滿足全部LCR測(cè)量要求。 技術(shù)指標(biāo) (全面的技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料) 被測(cè)參數(shù):|Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp;L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差 測(cè)量電路模式:串聯(lián)和并聯(lián) 量程轉(zhuǎn)換:自動(dòng)和手動(dòng) 觸發(fā):內(nèi)部、外部、手動(dòng)和總線(HP-IB) 延遲時(shí)間:0~60.000s,以1ms步進(jìn) 測(cè)量終端:四端對(duì) 測(cè)試電纜長(zhǎng)度: 4284A:標(biāo)準(zhǔn):0和1m;帶選件006時(shí):0,1,2,和4m 4285A:0,1和2m 積分時(shí)間:短、中等和長(zhǎng) 取平均:1~256,可程控F 測(cè)試信號(hào) 4284A:20Hz~1MHz±0.01%,8610個(gè)可選擇頻率 4285A:75KHz~30MHz±0.01%, 以100Hz步進(jìn) 測(cè)試信號(hào)方式 標(biāo)準(zhǔn):分別在開(kāi)路或短路的測(cè)量端,而不是在被測(cè)件上對(duì)選定的電壓或電流編程。 恒定:維持被測(cè)件上選定的電壓或電流,而與器件阻抗和變化無(wú)關(guān)。