X射線膜厚儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線光譜儀.適合無損測量薄鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板.其比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量.

X射線膜厚儀的可測元素范圍：
氯（CL） – 鈾（U）
可測量厚度范圍：
原子序22-25，0.1-0.8μm≤
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射線管：油冷,超微細對焦
高壓：0-50KV（程控）
電腦系統：IBM相容,17”顯示器

綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方式,無需購買標準藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.
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