CMI 243是一款專門為測量磁性金屬上的(如鋅、鎳等)涂鍍層厚度而設計的便攜式膜厚儀。*的渦電流測試方法使測量更精確。配置的測量探頭對細小的零件也可以精確測量。它具有X射線熒光的測量精度，同時也避免了庫侖法對被測工件帶來的破壞。 
CMI 243在設計上更加合理、可靠、實用。

技術參數：

型號：CMI 243 鍍層測厚儀 膜厚儀 牛津儀器專業供應 
品牌：OXFORD CMI(英國牛津) 

●ECP-M探頭：鋅、鎳均可以測量 
●準確度：±1% 
●測量范圍：0.08-1.50mils(2-38μm) 
●分辨率：0.01mils (0.25μm) 
●小測量半徑0.06英寸(1.55mm) 
●適用標準：符合ASTM B244—b259， DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3 
●單位：英制和公制單位自動轉換 
●統計數據顯示：讀取次數，平均值，標準差，高值，低值，終值 
●記憶儲存：12,400個數據儲存 
●接口：RS-232串行端口，波特率可調，可接打印機或計算機 
●顯示：液晶顯示(LCD),字符高度1/2” (1.27cm) 
●電池：9V干電池或可充電電池。 
●尺寸：57/8” (L) ×31/8” (W)×13/16” (D) (14.9×7.94×3.02 cm) 
●重量：9盎司/0.26kg, (包括電池重量在內)