半導體生產流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。
MIK-2000H型手持式超聲波流量計具有體積小、質量輕的特點，是真正意義上的便攜式超聲波流量計，該款產品具有數據自動存儲、測量精度高、全中文顯示、操作靈活等特點。產品一經推出即得到廣大客戶的青睞，目前已遠銷日本、韓國、歐美及中東地區，受到客戶的*。廣泛應用于環保、石油化工、冶金、造紙、食品、制藥等行業。
1、非接觸式測量方式、體積小、重量輕、攜帶方便
2、傳感器安裝簡便，適用于測量各種大小管道導聲介質
3、測量過程中不需要破壞管道，不需停產
4、內置可充電電池，可連續工作12小時以上
5、結構緊湊、堅固，的壓鑄鋁主機
6、自動記憶前64天，前64月，前5年的累積流量
7、背光液晶全中文顯示瞬時流量及正、負、靜累計流量、流速、時間、模擬輸入等數據
8、我們提供配套的軟件
為了解決眾多廠商在電池內阻測試中遇到的難題，艾德克斯推出了IT5100系列電池測試儀。IT5100系列為用戶提供在線和離線兩種內阻測試儀。其中在線內阻測試儀通過對電池內阻的在線測量和分析，可以快速而準確的得到各個單體電池內阻在使用或充電過程中的動態變化，從而判斷電池是否失效。一般在線內阻測試儀配合電池包充放電循環壽命測試較多，可反映出整個壽命周期中，電池包內部單體電芯內阻所呈現的動態變化。IT5102在線內阻測試儀可同時監控16個單體電芯內阻變化，并且支持多17臺主從并聯，將單體電芯測量數量擴展到272個，電壓電阻測量分辨率可達0.1mV、0.1mΩ。
MIK-1158-J壁掛式超聲波流量計是一款應用廣泛，通用經濟的超聲波流量計。超低故障率與維護成本，成為流量計中的。
MIK-1158-J具有超大規模集成電路設計。硬件數目少，低電壓工作，多脈沖發射，低功耗，高可靠性，抗干擾，適用性好。優化的智能信號自適應處理，用戶無需任何電路調整，就像使用萬用表一樣方便簡單。
