一、產品介紹
該款紫外輻照計采用 SMT 貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
二、產品參數
1、波長范圍及峰值波長：(以下兩種選其一)
（1）UV-340 探頭：λ：(315～370)nm；λP＝340nm
*（2）UV-313 探頭：λ：(290～340)nm；λP＝313nm輻照度測量范圍：(0.1～199.9×103) μW/cm2
2、紫外帶外區雜光：UV313：小于 0.05%
UV340：小于 0.05%
3、相對示值誤差：±8%（相對與 NIM 標準）
4、余弦特性（方向性響應）誤差：±10%
5、線性誤差：±1%
6、換檔誤差：±1%
7、短期不穩定性：±1%（開機 30min 后）
8、疲勞特性：衰減量小于 2%
9、零值誤差：滿量程的±1%
10、響應時間：1 秒
11、使用環境： 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH
12、尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg
13電源： 常規使用 6F22 型 9V 積層電池一只亦可使用數據線連接 USB 接口、5V 電源適配器供電,整機功耗＜0.1VA
三、產品特點
1、光譜及角度特性經嚴格校正
2、數字液晶顯示，帶背光
3、手動/自動量程切換
4、數字輸出接口（USB,冗余供電）
5、低電量提醒
6、自動延時關機
7、有數字保持

8、輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

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技術顧問：伊工

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