unipulse差動(dòng)式光纖位移計(jì) 光纖分析儀ATW200的介紹

unipulse差動(dòng)式光纖位移計(jì) 光纖分析儀ATW200的介紹

光纖束在發(fā)射光纖、接收光纖A和測(cè)量端的接收光纖B的對(duì)面分支成三個(gè)分支。當(dāng)光源發(fā)出的光斜入射到發(fā)射光纖時(shí)，光從圖2所示的測(cè)量端面出射，經(jīng)測(cè)量面反射，進(jìn)入接收光纖。這時(shí)，反射光變成環(huán)狀，其直徑隨測(cè)量間隙的變化而變化。和信號(hào)PA+PB為總反射光量，差信號(hào)PB-PA根據(jù)間隙變化如圖4所示。差信號(hào)除以和信號(hào)得到的信號(hào)與被測(cè)物體的反射率無關(guān)

動(dòng)式光纖位移計(jì)！
高速、高分辨率地測(cè)量狹窄和深處的位移！

只需將探頭靠近測(cè)量點(diǎn)即可進(jìn)行高速微小位移測(cè)量。
不需要補(bǔ)償麻煩的工作反射率。

ATW200的特點(diǎn)

• 3 MHz 高速響應(yīng)！非常適合分析壓電元件和高速振動(dòng)現(xiàn)象！

• 納米級(jí)分辨率！它測(cè)量的是真實(shí)位移，而不是速度，因此您不會(huì)錯(cuò)過低頻下的微小位移！

• 配備可變低通濾波器以實(shí)現(xiàn)響應(yīng)速度和分辨率。

• 輕松設(shè)置！只需將其靠近工件并僅執(zhí)行一次反射率校正！

測(cè)量原理

ATW200 是一款差分光纖位移計(jì)。我們專有的差分光纖排列了納米級(jí)的高分辨率和 3 MHz 的高速響應(yīng)，同時(shí)抑制了待測(cè)工件反射率的影響。