1.主機采用數字化面板設計,管流、管壓、樣品位置、真空度等參數面板直接顯示,可以根據分析元素種類不同軟件自動調整參數。
2.采用X光管激發樣品,一次激發全部待測元素,韌致輻射型,Be(鈹)窗厚200μm,靶材Rh(銠靶)。真空環境測量,提高了輕元素的激發效率和測量范圍。
3.采用進口高能量分辨率的電致冷Si-PIN半導體探測器,電致冷,無需液氮制冷,使用方便。探測器分辨率優于160eV(55Fe)。
4.多功能樣品室
樣品種類:固體、粉末、液體均可,如壓片無需添加任何試劑。
腔內多樣品座:一次可以放置12個樣品,自動控制,精確定位。
腔內環境:空氣或真空。
5.高壓電源:電壓 0V-50kV連續可調;電流O-lmA連續可調。數碼顯示,精度高,操作。
6.1024道多道譜儀實時測量顯示,對樣品X光譜進行精細分析,系統可自動識別譜線,方便地了解樣品的組成。
7.可一次性實現多元素的快速、無損、準確分析。
8.自動穩譜,消除譜峰漂移影響,確保儀器長期穩定。
9.整體設計合理,性能穩定,運行可靠。
10.全中文Windows應用軟件,操作簡單。
11.分析元素:Na-U,主要是Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn等,分析下限:
主要技術參數:
元素名稱 探測下限(%)
Al 0.01
Si 0.01
P 0.01
S 0.01
K 0.01
Ca 0.01
Ti 0.001
V 0.001
Cr 0.001
Mn 0.001
Fe 0.001
Cu 0.001
Pb 0.001
Zn 0.001
12.分析范圍:1ppm-99.9%.
13.能量范圍:1-30keV.
14.測量時間:<200S.
15.重復性:<0.1%.
16.穩定性:<0.01%.
17.輻射劑量:<25μsv/h.
18.軟件優勢:
WinXP界面應用軟件,全中文操作系統操作。
軟件數據庫功能強大,譜數據顯示、譜峰標記、能量定標、凈強度、預置時間等.
所有參數通過軟件調節,數碼管自動顯示,無需手動調節面板。
譜處理、扣除背景、元素識別、剝離重疊譜自動進行.
譜峰重疊時,軟件可以解譜.
軟件自動穩譜,消除環境變化影響.
線性擬合、基體校正、結果顯示。
19.儀器運行費用為零。
圖片展示:

Al 0.01
Si 0.01
P 0.01
S 0.01
K 0.01
Ca 0.01
Ti 0.001
V 0.001
Cr 0.001
Mn 0.001
Fe 0.001
Cu 0.001
Pb 0.001
Zn 0.001
12.分析范圍:1ppm-99.9%.
13.能量范圍:1-30keV.
14.測量時間:<200S.
15.重復性:<0.1%.
16.穩定性:<0.01%.
17.輻射劑量:<25μsv/h.
18.軟件優勢:
WinXP界面應用軟件,全中文操作系統操作。
軟件數據庫功能強大,譜數據顯示、譜峰標記、能量定標、凈強度、預置時間等.
所有參數通過軟件調節,數碼管自動顯示,無需手動調節面板。
譜處理、扣除背景、元素識別、剝離重疊譜自動進行.
譜峰重疊時,軟件可以解譜.
軟件自動穩譜,消除環境變化影響.
線性擬合、基體校正、結果顯示。
19.儀器運行費用為零。