對于失效分析、質量控制和材料表征而言、Q25是、的高分辨成像和分析應用的解決方案。在設計上側重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他

們所需的數據。 為應對不導電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對專用的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設計和真

空系統能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測樣品。 為滿足客戶對大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺行程。另

外、Q45加上了環境掃描（ESEM）模式、擴展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。

Q45 材料科學應用

為應對研究寬范圍的材料及結構及成分表征的需求，FEI Q45 SEM為應對當今的寬范圍研究需求的挑戰提供了靈活性和多功能。觀察任何樣品和獲得所有數據：表面和成分像可以和附件結合起來確定材料的性能和元素組成

優點

在所有的操作模式下可以用SE或BSE圖像表征導電或不導電樣品。

樣品制備工作最少化；低真空和環境掃描模式實現了無荷電成像及不導電樣品和/或含水樣品的分析

增加了除導電樣品之外的非導電樣品的分析能力，利用多級穿過透鏡的抽氣系統在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析。

利用穩定的高束流（上至2 μA）電子束可以迅速獲得精確的分析結果。

采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺可在樣品的自然含水狀態下完成樣品的動態原位分析。

簡單易用，即使是新手利用直觀的軟件可實現高效操作。