2016年新年伊始，日本電子株式會(huì)社（JEOL）即同步推出了新款場(chǎng)發(fā)射透射電鏡JEM-F200。
為了全面整合近年發(fā)展起來(lái)的透射電鏡上的各種功能，JEM-F200進(jìn)行了全新設(shè)計(jì)，在保障各種功能達(dá)到極限的同時(shí)，追求操作的簡(jiǎn)單化和自動(dòng)化，為用戶提供透射電鏡操作的全新體驗(yàn)。具體特點(diǎn)表現(xiàn)為：
1）精煉的全新設(shè)計(jì)：在提高機(jī)械和電氣穩(wěn)定性的同時(shí)，憑借對(duì)透射電鏡的豐富經(jīng)驗(yàn)，對(duì)電鏡整體進(jìn)行了精煉全新設(shè)計(jì)，力求為用戶提供全新感受；
2) 四級(jí)聚光鏡設(shè)計(jì)：為了發(fā)揮出STEM功能，JEM-F200進(jìn)行了全新概念的四級(jí)聚光鏡設(shè)計(jì)，亮度和匯聚角可以分別控制；
3）掃描系統(tǒng)：在照明系統(tǒng)掃描功能之上又增加了成像系統(tǒng)的掃描功能（選購(gòu)件）可以獲得大范圍的STEM-EELS；
4）皮米樣品臺(tái)控制：標(biāo)配的壓電陶瓷控制樣品臺(tái)，可以在原子尺度上獲得精準(zhǔn)的移動(dòng)；
5）全自動(dòng)裝樣測(cè)角臺(tái)（SPECPORTER）：樣品桿的插入拔出只需電鈕即可全自動(dòng)實(shí)現(xiàn)，彰顯其便利性及安全性；
6）成熟的冷場(chǎng)發(fā)射技術(shù)：將JEOL應(yīng)用在球差校正技術(shù)上的冷場(chǎng)發(fā)射技術(shù)移植到普通的場(chǎng)發(fā)射透射上，可獲得更好的高分辨觀察、更高效的成分分析和更好的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析；
7）雙超級(jí)能譜設(shè)計(jì)：可安裝雙超級(jí)能譜，將普通電鏡能譜的分析能力拓展到原子尺度；
8）節(jié)能減排：?jiǎn)⒂檬‰娔Ｊ胶碾娏拷档?0%。
