CMI760
桌上型銅厚測量儀
CMI760可用于測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度準確和精確的測量。
CMI760臺式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴展性，對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應用需求。
CMI760具有*的統(tǒng)計功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。
SRP-4探頭：SRP系列探頭應用*的微電阻測試技術(shù)。測量時，通過厚度值與電阻值的函數(shù)關(guān)系準確可靠地得出厚度值，而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響。可由用戶自行替換探針的SRP-4探頭為牛津儀器產(chǎn)品。耗損的探針能在現(xiàn)場迅速、簡便地更換，將停機時間縮至zui短。更換探針模塊遠比更換整個探頭經(jīng)濟。
安柏來科學儀器（上海）有限公司 成立于上海，在蘇州、深圳、成都設有銷售及服務點。
業(yè)務涉及
儀器設備事業(yè)：科學儀器、檢測工具、實驗室設備、工業(yè)自動化；
材料事業(yè)：工業(yè)材料、實驗室耗材
實驗室及生產(chǎn)線集成事業(yè)：QA/QC實驗室整體方案、電鍍代加工、電鍍廢水中貴金屬回收再利用。
有能力為客戶提供：售前應用評估及測試、售后技術(shù)支持、設備維護保養(yǎng)及校驗、標準樣品及零部件供應、標準樣品再認證（ISO17025）、備用設備租賃。
產(chǎn)品包括但不局限于：X射線熒光（XRF）、電子顯微鏡、能譜儀、白光干涉膜厚測量、磁感應及渦流、超聲、原子吸收（AAS）、原子力顯微鏡（AFM）、實驗室模擬系統(tǒng)、三座標、二次元、自動色差測量平臺……滿足客戶的QA/QC及R&D測試需求。
代理的品牌來自德國、英國、美國、日本，包括：Applied Spectroscopy、Amtec、Bruker、ColorPartner、Hydac、Oxford、K Alpha、SII 等……
不斷完善的產(chǎn)品解決方案、專業(yè)的技術(shù)眼光、高效率的運營、客戶為先的理念，我們追求與客戶*穩(wěn)定的配合、致力于成為客戶的技術(shù)采購合作伙伴。
非接觸式3D輪廓儀，白光干涉膜厚儀，XRF鍍層測厚儀，表面銅厚和孔內(nèi)銅厚測量儀，手持式XRF光譜儀
牛津儀器CMI760桌上型銅厚測量儀 產(chǎn)品信息
