產品描述：
- 光學方法，非接觸、無損測量，安全*。
- 快速膜厚分析，只需幾毫秒即可獲得測量結果
- 膜厚測量范圍 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )
- *的分析準確度，在整個厚度測量范圍內偏差小于0.005微米
- 可同時分析計算兩層膜厚
- 可同時支持實驗室離線分析或者在線生產分析
應用領域：
用于主要的汽車燈以及CD生產商等行業進行有機膜厚測試。
安柏來科學儀器（上海）有限公司 成立于上海，在蘇州、深圳、成都設有銷售及服務點。
業務涉及
儀器設備事業：科學儀器、檢測工具、實驗室設備、工業自動化；
材料事業：工業材料、實驗室耗材
實驗室及生產線集成事業：QA/QC實驗室整體方案、電鍍代加工、電鍍廢水中貴金屬回收再利用。
有能力為客戶提供：售前應用評估及測試、售后技術支持、設備維護保養及校驗、標準樣品及零部件供應、標準樣品再認證（ISO17025）、備用設備租賃。
產品包括但不局限于：X射線熒光（XRF）、電子顯微鏡、能譜儀、白光干涉膜厚測量、磁感應及渦流、超聲、原子吸收（AAS）、原子力顯微鏡（AFM）、實驗室模擬系統、三座標、二次元、自動色差測量平臺……滿足客戶的QA/QC及R&D測試需求。
代理的品牌來自德國、英國、美國、日本，包括：Applied Spectroscopy、Amtec、Bruker、ColorPartner、Hydac、Oxford、K Alpha、SII 等……
不斷完善的產品解決方案、專業的技術眼光、高效率的運營、客戶為先的理念，我們追求與客戶*穩定的配合、致力于成為客戶的技術采購合作伙伴。
非接觸式3D輪廓儀，白光干涉膜厚儀，XRF鍍層測厚儀，表面銅厚和孔內銅厚測量儀，手持式XRF光譜儀
TranSpec Lite 白光干涉膜厚儀 產品信息
