小型冷熱沖擊試驗箱
型號：BYR系列
產(chǎn)品簡介：小型冷熱沖擊試驗箱由高溫箱、低溫箱和測試箱三部分組成，試驗時待測試驗物品靜置于試驗箱內(nèi)不動，通過風(fēng)門切換達(dá)到迅速完成溫度沖擊的效果。試驗前可以設(shè)定排風(fēng)時間，用室內(nèi)空氣置換試驗箱內(nèi)的高溫或低溫空氣，從而降低試驗負(fù)荷。當(dāng)排風(fēng)時間為0時，直接完成兩溫區(qū)溫度沖擊試驗；當(dāng)設(shè)置為0～5min時近似完成三溫區(qū)溫度沖擊試驗。
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一、特點(diǎn)
1、具有預(yù)約啟動功能；
2、可選擇始動位置，高溫或低溫開始循環(huán)；
3、溫度控制精度高，全部采用PID自動演算控制
4、 可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時,可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗機(jī)的功能
5、 設(shè)備分為高溫箱,低溫箱,測試箱三部分,采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物*靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷,熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測試目的
二、冷熱沖擊試驗箱試驗標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件.
2.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件.
3.GB/T2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則》.
4.GB/T2423.21-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法》.
5.GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》.
6.GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》.
三、冷熱沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù)
3. 性能指標(biāo) |
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3.2 測試方法 | 環(huán)境溫度： +5℃～+30℃ |
3.3.高溫室 | |
3.3.1預(yù)熱溫度范圍 | +60℃～+200℃ |
3.3.2.升溫時間 | +60℃→+200℃ ≤25min |
3.4.低溫室 | |
3.4.1預(yù)冷溫度范圍 | -65℃ ～ -10℃ |
3.4.2降溫時間 | +20℃ → -55℃≤55 min |
3.5.試驗室（試樣區(qū)） | |
3.5.1. 試驗方式 | 氣動風(fēng)門切換2溫區(qū)或3溫區(qū)，風(fēng)速調(diào)節(jié) |
3.5.2.RAMP應(yīng)力 篩選 | +125℃～ -40℃ 溫變率：5～30℃/MIN |
3.5.3溫度沖擊范圍 | （+60～+125）℃/（-40～-10）℃ |
3.5.4溫度波動度 | ±0.5℃ |
3.5.5溫度偏差 | ±2.0℃ |
3.5.6溫度恢復(fù)時間 | ≤5min |
四、售后服務(wù)
1、為用戶提供所需的使用、維護(hù)諮詢；
2、及時向用戶提供易損件和備件；
3、為用戶派出技術(shù)人員對其設(shè)備使用、 維護(hù)進(jìn)行現(xiàn)場指導(dǎo)；
4、從驗收之日起，設(shè)備在一年*期內(nèi)，需方在遵守保管、 使用和安裝規(guī)則的條件下，因試
驗箱製造品質(zhì)問題不能正常工作時，供方在得到通知后24小時內(nèi)將派出維修人員進(jìn)行免費(fèi)維修。也可根據(jù)具體情況，按需方要求協(xié)商制定維修時限；
5、 質(zhì)保期后設(shè)備出現(xiàn)問題時，供方應(yīng)及時給予解決，酌情收取維修及材料費(fèi)
