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濟南創譜儀器有限公司
濟南創譜儀器有限公司
產品簡介 ：該系統特點：用調制光代替直流光，以減少雜散光、噪聲等對測量精度的影響；用錐腔型熱釋電探測器代替熱電堆探測器作為參考探測器，用鎖相測量儀器代替直流測量儀器并增加溫度控制，以便提高測量系統的靈敏度和光譜響應度標準的平坦程度，進而提高準確度；以雙單色儀代替單色儀，大大減少雜散......
◆QE/IPCE概念：
太陽能電池量子效率QE (Quantum efficiency)和太陽能電池IPCE(Incident Photon to Charge Carrier Efficiency)表示入射到太陽能電池表面的光子數目與太陽能電池產生的電荷載流子數目比率。太陽能電池量子效率QE (Quantum efficiency)測試是對太陽能電池外部效率的測量，而太陽能電池IPCE(Incident Photon to Charge Carrier Efficiency)測試是對太陽能電池內部效率的測試，也就是說太陽能電池表面反射的光子是不被考慮的。
太陽能電池量子效率QE/ IPCE測試在太陽能電池材料研究和太陽能電池設計中非常關鍵特殊，因為，對于太陽能電池，在太陽光譜組成分布較強的光譜位置上具有光譜響應是極其重要的。該太陽能電池量子效率QE/ IPCE測試設備是以光源和光譜學前沿技術為基礎的，所以，您可以信任它的專業測試準確性。
準確測試太陽能電池量子效率QE/ IPCE的關鍵是確定照射到待測太陽能電池上的單色光的強度大小和太陽能電池產生的電流大小。我們所提供的都是最重要的太陽能電池量子效率QE/ IPCE測試部件，在這些太陽能電池量子效率QE/ IPCE測試部件的基礎上，用戶可以很快的完成太陽能電池量子效率QE/ IPCE測試實驗。
◆系統簡介:
本系統用于測量太陽電池光譜響應度（A/W），其測量原理是通過光源從單色儀出射的單色光，分別照射在被測硅探測器（如太陽電池，染料敏化太陽能電池、光電二極管等）與標準硅探測器上，然后測量它們的短路電流，再比較電流值的方法得出光譜響應度。其中標準硅探測器光譜響應度數據由中國傳遞而來。
該套裝置搭建以后，可實現對單色儀狹縫，波長調整，對鎖相放大器(或弱電流計)檔位調整，時間常數調整，數據測量，數據曲線實時顯示，數據結果處理，詳細功能可根據用戶特殊需要定制，3年內軟件免費升級維護）。
本套系統可用于測量(300~1100)nm波長范圍，測量不確定度<5%（k＝2）（400-1100）nm
◆系統主要原理圖
1．交流測量法（可測量f微弱電流信號）
2．直流測量法（可測量p微弱電流信號）
◆系統的組成：
1、光源
（1）型號：CP-XQ500W（氙燈）電功率500W，多級聚焦，發射波長范圍：200-2500nm，總光功率：10W（2）鹵素燈及直流電源，用于（800－1600）nm，波長平坦，功率250W。
2、單色儀
型號：CPISW151，參數：焦距150mm、分辨率1nm、機械掃描范圍：0-1200nm、波長精度：1nm（添加近紅外光柵(700-2000)nm）。
3、光學系統
由2塊凸透鏡和濾光片輪組成。
4、標準紫外探測器
硅探測器3只（日本濱松，其中1只用于， 2只用于備用）
型號：S1337。
5、自動控制系統及軟件
包括單色儀控制，測量儀表讀數，數據比對，處理等，VB程序。
6、測量儀表(交流和直流測量法)
鎖相放大器型號：SR830
雙相數字式，
1mHz—102kHz頻率范圍
100dB動態儲備（不加前置濾波器）
自動增益，自動相位，自動動態儲備
10s—30ks時間常數
6，12，18，24dB/倍頻程衰減速率
諧波檢測（2F，3F…nF）
GPIB，RS—232接口
調制器型號：SR540
具有電壓控制輸入，四位數字頻率顯示，十段頻率控制，和兩種可選工作模式的參考輸出。
4Hz—3.7kHz斬波頻率
單光束和雙光束調制
低相位抖動
和頻和差頻參考信號輸出
測量儀表(直流測量法)
Keithley 6517A
主要特點及優點:
電阻測量可達1016Ω
電流測量范圍1fA-20mA
最小電流量程輸入壓降<20μＶ
200TΩ輸入阻抗
<3fA偏置電流
高達125rdgs/s
噪聲0.75fA p-p
內置±1kV電源
的高電阻測量電壓反接方法
可選的插件式掃描卡
7、光學平臺（可選）
國產，1.2M*1.8M，鋼制。由光學暗室、旋轉轉臺、控制器和一維調節座（3只）組成。
基本功能特點與技術指標：
☆CPQE100系列太陽電池QE/IPCE測試儀，可以將IQE和EQE同點同時測量(內外量子效率同時測量)，更加專業科學精確。
☆ 大功率寬光譜太陽模擬光源保證足夠光譜范圍,從200nm-2500nm范圍輻射穩定、能量高；光源的供電電源的電流穩定度：0.05%@8.5A
☆ 自動光柵分光系統，波長分辨率0.1nm；波長準確度±0.2nm；波長重復性±0.1nm，配自動濾光片輪，消除多級光譜配合經典C-T結構，有效濾除雜散光。
☆ 測試光斑直徑1mm-38mm可調;短路電流密度重復性：<1%，單色光光譜帶寬＜5nm，(可調)，掃描步長默認5nm(0.05nm-10nm可選)。
☆ 數據采集：采用斬波鎖相提取信號，剔除噪聲，斬波頻率調整范圍：5-1000Hz，鎖相放大器靈敏度2nV
☆ 探針樣品臺,測試樣品尺寸 ≤156x156mm（可定制更大尺寸）
軟件界面人性化，即學即會的簡單操作
系統軟件中，將所有儀器控制的部分都匯總到一個界面，將所有儀器參數設置的部分都匯總到一個界面，將操作控制簡單化，實現一鍵運行。并且兼容通量法和均勻照度法兩種測量方式，并根據不同測量方式采用不同的公式進行數據計算與處理。
儀器參數設置可以統一保存為一個文件并導出，從而實現快速還原功能，隨時調用以前保留的參數設置。不同機臺之間的參數設置也可以互相調用。
圖、表文件自動生成與顯示,系統軟件保留所有原始數據，或導出為txt、xls等格式的文檔，便于主流數據處理軟件調用，多組數據對比，進行后續分析。
粗大誤差的自動去除，系統誤差、線性誤差、周期誤差、T誤差的自動校驗。
高級選配功能：
☆ 半導體溫控臺：控制樣品溫度范圍5-40℃
☆ DC/AC模式可選,斬波脈沖光照模式與穩態連續光照模式兼容，一機多用
☆ 樣品真空吸附功能
☆ 可選光路監視,監測光強變化，有效扣除光源不穩定帶來的測試誤差
☆ 偏置光源
☆ 偏置電源
☆ 自動快門
☆ 級聯雙單色儀
☆ 自動Mapping
☆ 其他用戶需求：創譜儀器憑借專業實力，可滿足用戶的不同需求，為客戶量身定制,提供完善的系統解決方案
測試曲線：
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